林上科技-让测量更简单
0755-86263411
  • 首页
  • 走进林上
  • 产品中心
  • 新闻中心
  • 技术资料
  • 合作伙伴
  • 联系林上

涂层测厚仪探头

当前位置:首页 > 搜索 涂层测厚仪探头​
  • 涂层测厚仪F、NF、FNF探头有什么区别?铁基、非铁基和双基测量怎么选?
    林上LS227涂层测厚仪常见的F、NF和FNF探头,主要区别在于测量原理和适用基材。F探头采用磁感应法,用于铁、碳钢等铁磁性金属表面非磁性涂层的测量;NF探头采用涡流法,主要测量铝、铜等非铁磁性导电金属表面的非导电涂层;
联系方式
  • 0755-86263411
  • sales22@linshangtech.com
  • 13670090036
  • 800083066
  • 走进林上 + 公司介绍 成长历程 资质证书 最新展会 历年展会
  • 产品中心 +
    1. 色差仪
    2. 光泽度仪
    3. 涂层测厚仪
    4. 超声波测厚仪
    5. 里氏硬度计
    6. 紫外能量计
    7. 紫外辐照计
    8. 透光率仪 光密度仪
    9. 光学透过率仪
    10. 太阳膜测试仪
    11. 便携式太阳膜测试仪
    12. 太阳能功率计
    13. 太阳膜展示套件
    14. 玻璃厚度仪
    15. 真空镀膜在线测厚仪
    16. 水质检测仪
    17. 停产产品
  • 新闻中心 + 公司新闻 行业动态 展会信息
  • 技术资料 + 资料下载 产品知识及应用 表面光泽色差涂层厚度检测 太阳膜知识及检测 透光率测试 紫外线强度检测 中空玻璃及厚度检测 镀膜厚度在线测量 光学知识 综合类
  • 联系我们 + 林上联系方式 林上售后服务 林上调校维修 公司地图 版权信息
林上科技   |   产品中心   |   版权信息   |   网站地图   |   联系我们   XML   RSS
CopyRights © 2021 深圳林上科技有限公司   粤ICP备10033106号

TOP