镀铝膜的厚度均匀性测量

来源:林上科技   发布时间:2013/02/02 11:31  浏览:5292
由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄,因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度,目前检测镀铝膜层厚度均匀性的专用仪器是光密度仪,光密度仪原理是通过对薄膜透光率光学性能进行检测.

由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄,因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度,目前测量镀铝膜的厚度均匀性的专用仪器是光密度仪。光密度仪原理是光密度法通过对薄膜透光率光学性能进行检测。
镀铝膜的厚度均匀性测量方法:
1、高倍电子显微镜直接测量,精确度为10E-10米,也就是0.1纳米(1米=1000mm,1mm=1000微米,1微米=1000纳米,1纳米=10埃米)。镀铝层的厚度一般为30埃米至800埃米之间。这个方法对镀铝层厚度方向上的断面取样手法要求极高,其精确度影响较大,但是所得数据是最为直接的物理测量。
2、方块电阻法测量,我国有国家标准:GB/T 15717-1995《真空金属镀层厚度测试方法电阻法》。此标准中有详细的方法描述,你有兴趣可以下载下来看看。这是一种模拟检测手段,有一定误差,尤其是对半透明镀铝膜的检测,简直无法进行。
3、用光密度计进行检测:目前这种仪器在物理学的原理方面是一样的,但是奇怪的是连美国都有两家公司生产的光密度计居然差别很大,一种是TOBIAS牌的,另一种是爱色丽(X-rite)生产的系列仪器。国内的光密度计就是林上科技的LS117光密度计;它是用光学透视的方法来换算镀铝层的厚度,也是一种模拟检测方法。这种仪器可以适用于半透明镀铝膜,也能适用于不透明镀铝膜。

光密度仪

4、用光密度仪进行检测,仪器很多,但全球标准都不统一,也是一种模拟检测方法,适用于半透明镀铝膜的检测。镀铝膜使用的检测仪还是选择光密度仪最为合适。

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