平行光路的薄膜透光率仪

LS116薄膜透光率仪，采用光源的平行光路及接收器聚光设计，分辨率为0.1%，精度优于±1%，并符合CIE明视觉函数标准，是一款高精度光学透光率仪。其测量原理是采用可见光源照射被测物质，感应器分别探测光源的入射光强和透过被测物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率。

薄膜指的是一种轻而软的透明薄片，一般是用塑料，橡胶等其他材料制成，例如尼龙薄膜，聚酯薄膜，复合薄膜等，这些薄膜被泛用于电子电器，机械，印刷等行业，可以使用LS116薄膜透光率仪来测量薄膜的透光率。

在使用LS116薄膜透光率仪时，可直接拿两个探头对准测量物两边的位置，两个探头即可自动吸合到一起，无需按键，仪器即可自动测量，透过率用百分数表示，如需保存当前的测试数据，按下仪器的“HODL”键即可储存，仪器最多储存9组测试数据。